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              德國韋氏納米系統(香港)有限公司

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              SR系列薄膜反射儀的詳細資料

              光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

               

              SR 光譜反射儀系列特征:                                                                    

              • 簡單易操作                        

              • *系統性能基于先進的光學設計            

              • 基于陣列的探測器系統保證快速測量            

              • 測量薄膜厚度和折射率可達5層            

              • 允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜            

              • 可用于實時或在線厚度,折射率的監測            

              • 系統具有全面的光學常數數據庫           

              • 先進的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似(EMA)每個單獨的膜。            

              • 可升級到MSP(顯微分光光度計)系統,SRM映射系統,多通道系統,大點的·直接測量圖案或功能結構 

               

              • 適用于多種不同厚度的基材            

              • 各種附件可用于特殊配置,如運行曲線測量曲面            

              • 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理接口

               

              光譜反射儀型號:

               

              SR100              SR300                          SR500

               

              德國韋氏納米系統(香港)有限公司主要供應等離子清洗機,基本型等離子清洗機,擴展型等離子清洗機,高功率等離子清洗機等產品。

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